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基于晶体谐振器的光功率参数测量方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于晶体谐振器的光功率参数测量方法和装置,包括晶体谐振器、起振电路和频率测量单元,起振电路的输入端与晶体谐振器的电极相连,起振电路的输出端与频率测量单元电连接,待测量光束入射在晶体谐振器的工作面;本发明的测量方法和装置在应用中将入射激光高反射,降低了对测量系统承受激光辐照能力的要求,可用于长时间出光条件下高能激光参数测量,在实施中将激光的功率转换为频率测量,利用现代频率测量技术具有的测量精度和分辨率高等特点,使其可满足不同功率条件下激光参数的测量,适用性强、动态范围大同时具有结构紧凑、工程化简单等特点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 1/42 授权公告日:20160817 终止日期:20180603 申请日:20130603

    专利权的终止

  • 2016-08-17

    授权

    授权

  • 2016-08-17

    授权

    授权

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/42 申请日:20130603

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/42 申请日:20130603

    实质审查的生效

  • 2014-12-17

    公开

    公开

  • 2014-12-17

    公开

    公开

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