方形空洞共振器のSパラメータ解析にもとづく複素誘電率測定法の検討

摘要

先に我々が提案した誘電体チューブ法の原理は誘電体円柱の複素誘電率測定にも適用できる。 方形導波管の広壁側から円柱状や多層円筒状の試料を挿入して、Sパラメータより複素誘電率の周波数掃引測定を行う方法を総称して、円柱状試料挿入方形導波管法と呼ぶことにすれば、誘電体チューブ法はその一アプリケーションと位置づけられる。 同方法では低損失材料の誘電正接を正確に求めることができない。 そこで本報告では、円柱状試料挿入方形導波管法の装置に結合窓板を2枚追加して低損失材料の測定のための方形空洞共振器の構成にし、導波管の使用周波数帯域内で3点程度の測定を行うことを目標とし33-50GHzでの測定系を構築し、測定を行った。 試料の複素比誘電率を共振器の透過Sパラメータの解析にもとづき求めた結果、試料の複素比誘電率を得ることができた。