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一种掩模版及光刻机能量的监控系统

摘要

本实用新型提供了一种掩模版及光刻机能量的监控系统。其中,在掩模版上,具有至少一个掩模图形组,每个所述掩模图形组包括多个形状相同且尺寸不同的掩模图形,用于获取各个掩模图形在基板上得到相同尺寸的图形所对应的多组曝光能量,以得到多个掩模图形的掩模尺寸和多组曝光能量的对应关系,即可以通过掩模版上的多个形状相同且尺寸不同的掩模图形得到不同尺寸间的能量变化范围。从而,在将该掩模版应用于光刻机能量的监控系统中时,即可基于多个掩模图形的掩模尺寸和多组曝光能量的对应关系,通过测量装置自动判断出光刻机的实际能量是否发生偏移,操作便捷、快速,且大大降低了失误风险,有助于保证产品质量。

著录项

  • 公开/公告号CN216748435U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN202122953922.2

  • 发明设计人 张龙;王晓龙;

    申请日2021-11-29

  • 分类号G03F1/00;G03F1/44;G03F7/20;

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周耀君

  • 地址 201315 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2022-08-23 07:28:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-14

    授权

    实用新型专利权授予

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