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CL08-08型硅块外观数量检查冶具

摘要

本实用新型涉及一种CL08‑08型硅块外观数量检查冶具,所述硅块为方体,其长度为a、宽度为b、高度为b;所述检查冶具包括主体;所述主体上设置有若干沟槽,所述沟槽为方槽,其长度大于a、宽度等于b+0.25、高度等于b。设计合理,结构简单,适量硅块放于检查冶具上面,手动摇动器具,使硅块整齐地排列在沟槽中,人工目视可以对硅块进行外观精检以及数量统计。如设计沟槽数量为25,排满一个沟槽共80硅块,即筛满共计硅块2000只;基于沟槽与硅块的尺寸关系,硅块排列在沟槽中,可直观检出外形不良品。

著录项

  • 公开/公告号CN216015305U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏皋鑫电子有限公司;

    申请/专利号CN202121927174.4

  • 发明设计人 陈许平;

    申请日2021-08-17

  • 分类号H01L21/67(20060101);

  • 代理机构11335 北京汇信合知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙腾

  • 地址 226500 江苏省南通市如皋市如城街道中山西路82号

  • 入库时间 2022-08-23 05:20:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    授权

    实用新型专利权授予

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