首页> 中国专利> 一种晶体角度测量用X射线衍射仪

一种晶体角度测量用X射线衍射仪

摘要

本实用新型涉及晶体加工技术领域,尤其涉及一种晶体角度测量用X射线衍射仪,包括安装架,安装架内安装有第一电机,第一电机的输出轴上安装有摆臂组件,摆臂组件的末端分别安装有X射线产生仪和盖革计数器,X射线产生仪与盖革计数器相对安装,安装架上安装有固定板,固定板与安装架之间存在间距,摆臂组件穿设在固定板和安装架之间,固定板上安装有工作台,安装架上安装有第二电机,第二电机的输出轴与工作台固定连接,用来解决现有的角度测量的X射线衍射仪在使用时,存在人为因素的影响,导致X射线衍射仪的校准存在较大的系统误差,影响测量结果,同时,导致后续校正过程中无法修正的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN215525601U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 威科赛乐微电子股份有限公司;

    申请/专利号CN202120961729.0

  • 发明设计人 周一;彭杰;毕洪伟;赵红;黄玉荣;

    申请日2021-05-07

  • 分类号G01N23/20(20180101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄宗波

  • 地址 404000 重庆市万州区万州经开区高峰园檬子中路2号

  • 入库时间 2022-08-23 03:54:13

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号