公开/公告号CN215263982U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-12-21
原文格式PDF
申请/专利权人 中国计量科学研究院;
申请/专利号CN202121009874.5
申请日2021-05-12
分类号G01R33/385(20060101);
代理机构11497 北京市正见永申律师事务所;
代理人黄小临;冯玉清
地址 100029 北京市朝阳区北三环东路18号
入库时间 2022-08-23 03:32:20
机译: 用于产生垂直于带状黄原磁图的纵向的装置,用于测量平移的,优选的磁方向延伸
机译: 用于测量磁场的传感器装置,具有用于产生磁场的磁信号源和两个用于测量磁场强度的半导体传感器
机译: 用于从磁补偿力测量装置产生数字测量信号的电路装置