公开/公告号CN213516104U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-06-22
原文格式PDF
申请/专利权人 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所;
申请/专利号CN202023028397.5
申请日2020-12-16
分类号G01K15/00(20060101);H01H47/00(20060101);H02J9/06(20060101);
代理机构11639 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人王松
地址 100095 北京市海淀区温泉镇环山村
入库时间 2022-08-22 22:22:38
机译: 估计具有同相扫描的多个元素的活动阶段中的天线校准关系的方法,计算机程序以及用于计算将用于校准一组天线的校准比率的系统扫描阶段,S。Istema校准以校准一组天线扫描阶段,以及,一组天线扫描阶段
机译: 用于校准校准炉中的特别是非常短的温度变送器的装置
机译: 用于温度计量装置和校准系统的校准的扫描开关及其校准方法