机译:估计具有同相扫描的多个元素的活动阶段中的天线校准关系的方法,计算机程序以及用于计算将用于校准一组天线的校准比率的系统扫描阶段,S。Istema校准以校准一组天线扫描阶段,以及,一组天线扫描阶段
公开/公告号BRPI0819559A2
专利类型
公开/公告日2015-05-05
原文格式PDF
申请/专利权人 ELTA SYSTEMS LTD.;
申请/专利号BR2008PI19559
申请日2008-12-24
分类号H01Q3/26;G01S7/40;
国家 BR
入库时间 2022-08-21 15:16:06