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一种利用图示仪检测半导体元件反向特性曲线的装置

摘要

本实用新型涉及一种利用图示仪检测半导体元件反向特性曲线的装置,它包括图示仪、视觉检查相机、PLC控制箱和蜂鸣器,图示仪的主面板上设计有图像显示屏,视觉检查相机安装在图像显示屏的前方且视觉检查相机的镜头正对图像显示屏,视觉检查相机通过信号线连接PLC控制箱,所述PLC控制箱上还安装有蜂鸣器。优点是设计简单,使用方便,通过视觉检查相机代替人眼观察,再通过PLC控制箱进行比对,方便可靠。

著录项

  • 公开/公告号CN212989556U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南通皋鑫科技开发有限公司;

    申请/专利号CN202021602303.8

  • 发明设计人 张晓林;章东;

    申请日2020-08-05

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 226500 江苏省南通市如皋市磨头镇惠政路2888号

  • 入库时间 2022-08-22 20:53:46

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