公开/公告号CN212710048U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-03-16
原文格式PDF
申请/专利权人 北京智图视控科技有限公司;
申请/专利号CN202021042705.7
发明设计人 刘强;
申请日2020-06-09
分类号B64F5/60(20170101);B62B3/02(20060101);B62B5/00(20060101);B62B5/06(20060101);B60B33/02(20060101);F16M11/04(20060101);F16M11/08(20060101);F16M11/18(20060101);F16M11/26(20060101);F16M11/42(20060101);
代理机构11616 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司;
代理人李朦
地址 102200 北京市昌平区北清路1号院7号楼2层2单元215-1
入库时间 2022-08-22 20:13:04
机译: 调试系统,半导体集成电路和半导体集成电路的调试方式,是一种具有分析装置的调试系统,该分析装置对成为调试基板和目标的半导体集成电路的动作进行分析。
机译: 具有自动调试单元和坐标流架的用于调试单个包装产品的过程和设备
机译: 带有自动调试单元和协调流架的独立包装产品的调试过程和装置