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一种射频发射机杂散辐射测试系统

摘要

本实用新型提供一种射频发射机杂散辐射测试系统,是一种近场测试系统,测试场为微波暗室;伺服系统为安装在微波暗室内的一轴精密转台,待测射频发射机的天线设置在精密转台上;射频分系统包括矢量网络分析仪,所述的矢量网络分析仪利用测试探头接收待测射频发射机天线的辐射信号完成待测射频发射机天线幅相参数测试。本实用新型是利用一轴转台配合探头阵列实现电磁场的球面近场采样。

著录项

  • 公开/公告号CN212433285U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东圣大电子有限公司;

    申请/专利号CN202021432353.6

  • 发明设计人 卜景鹏;官国阳;严方勇;刘忠程;

    申请日2020-07-20

  • 分类号G01R29/10(20060101);

  • 代理机构11429 北京中济纬天专利代理有限公司;

  • 代理人孔凡亮

  • 地址 528308 广东省佛山市顺德区伦教街道办事处霞石村委会新熹四路北2号

  • 入库时间 2022-08-22 19:24:33

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