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原位电子显微镜离子辐照损伤光学特征深度分布分析装置

摘要

本实用新型涉及离子辐照分析技术领域,且公开了原位电子显微镜离子辐照损伤光学特征深度分布分析装置,包括底座,所述底座的顶部固定安装有支撑台,所述支撑台的顶部固定安装有摄像模块。该原位电子显微镜离子辐照损伤光学特征深度分布分析装置,通过对样品本体的调节,来确保离子光速聚焦在样品表面,通过第一电机的运行其输出轴的转动,带动螺纹杆进行旋转,通过联轴器的安装,使第一电机输出轴与螺纹杆之间的连接更为稳固,通过轴承的安装,使得螺纹杆转动的时候更加平稳,在其转动的过程中,螺纹套在其外表面向上进行移动,支杆带着限定杆和样品本体随着一起运行,来实现对样品本体的高度调节,达到了方便调节的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN211856406U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南通励思仪电子科技有限公司;

    申请/专利号CN202020089176.X

  • 申请日2020-01-16

  • 分类号G01N23/00(20060101);

  • 代理机构44490 佛山卓就专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人赵勇

  • 地址 226000 江苏省南通市崇川区新城桥街道启秀社区附属用房

  • 入库时间 2022-08-22 17:44:16

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