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一种基于GTEM测试小室的局放传感器测试工装

摘要

本实用新型公开了一种基于GTEM测试小室的局放传感器测试工装,包括GTEM小室,所述GTEM小室的顶部开设有开口,所述开口的上侧安装有GIS拔口模拟盘,所述GIS拔口模拟盘上安装有被测传感器,所述被测传感器包括传感器本体、传感器天线,所述传感器本体的上侧安装有传感器接线盒。本方案的局放传感器测试工装设备制造成本低,可一次制作重复使用,可快速、方便地适应不同类型的特高频传感器,能够真实、全面的反应现场实际的运行情况,保证测试的结果准确。

著录项

  • 公开/公告号CN211826455U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海格鲁布科技有限公司;

    申请/专利号CN202020265284.8

  • 发明设计人 吴瑜亮;田广亮;赵洪义;沈道义;

    申请日2020-03-06

  • 分类号G01R35/00(20060101);

  • 代理机构31355 上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人丁剑

  • 地址 201210 上海市浦东新区秋月路26号10号楼

  • 入库时间 2022-08-22 17:39:52

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