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原位同步辐射X射线衍射测定装置

摘要

本实用新型公开了一种原位同步辐射X射线衍射测定装置,用于检测纳米晶水热制备过程晶相结构,包括毛细管支架、毛细管、钢瓶、压力控制器、量角仪、空气加热器、热电偶、温度控制器、同步辐射光束、探测器。毛细管支架为T形,其一端出口固定毛细管;另一端连接钢瓶对毛细管加压。毛细管支架T形底部为底座,用于将毛细管支架固定在量角仪上。空气加热器放置于毛细管下方进行加热,紧贴毛细管外壁下方放置热电偶,测量和调节空气加热器加热温度。同步辐射X射线光束辐照在毛细管被加热部分,产生衍射信号采用探测器检测。该装置可原位、实时、在线、高通量的表征纳米晶材料合成过程中晶相转变过程,为深入、全面认识结晶生长过程提供有用信息。

著录项

  • 公开/公告号CN211785232U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201921579276.4

  • 发明设计人 张良苗;刘德余;

    申请日2019-09-23

  • 分类号G01N23/207(20060101);G01N23/20033(20180101);

  • 代理机构31205 上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人顾勇华

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2022-08-22 17:27:07

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