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用于检测与光电检测器相关联的电路内的堆积的装置

摘要

本公开的实施例涉及用于检测与光电检测器相关联的电路内的堆积的装置。该装置包括输入端子,其被配置为接收多个光电检测器输出。OR树与电路并联耦合,该电路与光电检测器相关联。OR树具有耦合到输入端子的输入,并且被配置为组合光电检测器输出。计数器被配置为对OR树的输出进行计数。比较器被配置为将计数器的输出与确定的阈值进行比较,其中比较器被配置为基于计数器的输出大于或等于确定的阈值来输出指示与光电检测器相关联的电路内的堆积的指示符。

著录项

  • 公开/公告号CN211553064U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-09-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 意法半导体(R&D)有限公司;

    申请/专利号CN201921297722.2

  • 发明设计人 J·K·莫雷;

    申请日2019-08-12

  • 分类号G01J1/44(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华;傅远

  • 地址 英国白金汉郡

  • 入库时间 2022-08-22 16:50:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-15

    避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01J 1/44 专利号:ZL2019212977222 申请日:20190812 授权公告日:20200922 放弃生效日:20220315

    避免重复授权放弃专利权

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