一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台

摘要

本实用新型公开了一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台，属于扫描隧道显微镜领域，包括上层样品架和下层样品架，上层样品架上设置缺口，下层样品架设置于缺口嵌套的凸起，上层样品架非缺口处用于放置辅助样品，下层样品架的凸起放置目标样品，上层样品架和下层样品架的水平间隔小于等于针尖的最大水平移动量；放置辅助样品的上层样品架与放置目标样品的下层样品架的高度差小于等于针尖的最大竖直移动量；需要对针尖进行特殊处理时，通常为修饰，可通过上层样品架上放置对应的辅助样品进行操作，本实用新型节省了频繁放置辅助样品浪费的时间和精力，提高了STM实验的效率。