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一种SPV硅片少子寿命检测系统

摘要

本实用新型涉及硅片检测技术领域,尤其为一种SPV硅片少子寿命检测系统,包括测量模块、信号处理模块、控制模块和基座,所述基座上固定设有承载平台,所述承载平台端面中心处固定设有内嵌有光电传感器,所述光电传感器的上方并且位于承载平台的端面上设有硅片,所述硅片的上方设有红外光源,所述红外光源的安装在固定架上,所述固定架设置在基座的端面上,所述固定架上并且位于红外光源的同侧设有静电耦合传感器,所述基座的端面上并且位于固定架的左上侧固定设有LCD触摸屏安装架,所述LCD触摸屏安装架上安装有LCD触摸屏,本实用新型通过设计检测系统具有无接触、抗干扰能力强、故障率低、操作方便、维护成本低、快速、准确等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN211043567U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海柏凌电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201921696129.5

  • 发明设计人 朱洪伟;曹伟兵;

    申请日2019-10-11

  • 分类号

  • 代理机构北京盛凡智荣知识产权代理有限公司;

  • 代理人商祥淑

  • 地址 201111 上海市闵行区元江路5500号第1幢3870室

  • 入库时间 2022-08-22 15:22:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-17

    授权

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