公开/公告号CN210982271U
专利类型实用新型
公开/公告日2020-07-10
原文格式PDF
申请/专利权人 湖南航天天麓新材料检测有限责任公司;
申请/专利号CN201921868187.1
申请日2019-11-01
分类号
代理机构长沙正奇专利事务所有限责任公司;
代理人郭立中
地址 410600 湖南省长沙市宁乡市高新技术产业园区金州北路001号
入库时间 2022-08-22 15:12:04
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-07-10
授权
授权
机译: 荧光X射线分析仪包括X射线源,用于容纳样品的台,用于检测由样品产生的二次X射线的检测器以及准直仪。
机译: 温度编程的脱附分析仪,用于该分析仪的样品台以及温度编程的脱附分析方法
机译: 可加热的样品台,用于在温度较高的情况下在扫描电子显微镜中进行原位成像