一种可批量测试耳塞变形后恢复时间的检测装置

摘要

本实用新型涉及一种可批量测试耳塞变形后恢复时间的检测装置，包括底座和压料部；底座为方形结构，底座的上表面为平面，底座的上表面沿着其长度方向等间距设有若干放置槽，放置槽用于放置待检测回弹时间的耳塞，底座的前端侧面竖直向上且对称设有两个接触式传感器，接触式传感器电气连接外部的计时装置；压料部也为方形结构，压料部的下表面为平面，压料部铰接在底座的上表面一侧位置。本实用新型可以批量检测不同尺寸的耳塞，确保检测的耳塞变形量的一致性，从而保证检测出的耳塞变形恢复时间的准确性。