一种用于测试芯片导通电阻值的测试装置

摘要

一种用于测试芯片导通电阻值的测试装置，涉及芯片检测技术领域。包括基台、陶瓷片和探针。基台的顶部开设有凹槽，陶瓷片容置于凹槽并由粘接剂固定。陶瓷片表面做镀金处理，且其表面由导线电连接至电阻测试装置的第一端头。探针由导线电连接至电阻测试装置的第二端头。其结构简单，方便易用，能够用于准确地测量芯片的导通电阻值，大大提高了测量的效率和精确度。