新型半球谐振陀螺仪性能测试装置

摘要

本实用新型公开了一种新型半球谐振陀螺仪性能测试装置，包括陀螺仪测试工位和芯片测试工位；所述陀螺仪测试工位包括转台和显控装置，所述转台的上方设有固定陀螺仪的承载体，承载体内形成能够容纳陀螺仪的空腔；所述芯片测试工位包括工作台和芯片测试单元，所述工作台上设有夹紧机构，所述夹紧机构设于工作台中部，所述芯片测试单元设于工作台的一侧。本实用新型提供了一种新型半球谐振陀螺仪性能测试装置，能够对陀螺仪和陀螺仪芯片进行测试，结构简洁高效。