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一种红外锗单晶径向电阻率检测装置

摘要

本实用新型公开了一种红外锗单晶径向电阻率检测装置,包括壳体以及安装在壳体内部中间位置的挡板,所述壳体顶部中间位置开设有第一开槽,所述壳体一侧开设有第二开槽,所述第二开槽底部开设有限位孔,所述挡板两侧均设置有第一压缩弹簧,所述第一压缩弹簧远离挡板一端均安装有限位机构,所述限位机构包括第一滑槽、底板、限位板以及检测针。本实用新型通过移动限位板,进而使得第一压缩弹簧发生形变,通过第一压缩弹簧的弹力将不同直径的红外锗单晶紧紧固定在限位板之间,同时由于检测针与限位板之间的固定关系,进而使得挡板两侧的检测针一直处于对称位置,进而方便测出红外锗单晶的径向电阻率,使得整个检测过程简单便捷,提高工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN210347769U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中锗科技有限公司;

    申请/专利号CN201920708893.3

  • 申请日2019-05-17

  • 分类号

  • 代理机构南京新慧恒诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人李晓静

  • 地址 211200 江苏省南京市溧水经济开发区中兴东路9号

  • 入库时间 2022-08-22 13:22:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-17

    授权

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