首页> 中国专利> 一种真空处理腔室的射频脉冲功率匹配的方法及其装置

一种真空处理腔室的射频脉冲功率匹配的方法及其装置

摘要

本发明提供一种真空处理腔室的射频脉冲功率匹配的方法及其装置,包括以下步骤:预设第一射频脉冲信号发生器中的第一反射功率标准值和第二射频脉冲信号发生器中的反射功率标准值;采用自学习循环方式来搜索最小反射功率对应的第一射频频率和第二射频频率,本发明的真空处理腔室的射频脉冲功率匹配的方法及其装置通过自动调节射频脉冲频率,采用自学习循环方式,并且针对小范围精确扫频,获得射频功率的反馈,来搜索最小反射射频功率,本发明的实现的成本低廉,不需要增加过多的设备成本,而且,不存在一定时延,在此段时间内负载得到的功率可控,不会影响刻蚀工艺进行。

著录项

  • 公开/公告号CN103928283B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中微半导体设备(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201310009371.1

  • 发明设计人 黄智林;席朝晖;叶如彬;徐蕾;

    申请日2013-01-10

  • 分类号H01J37/32(20060101);

  • 代理机构72003 隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人张龙哺;吕俊清

  • 地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号

  • 入库时间 2022-08-23 09:42:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01J 37/32 变更前: 变更后: 申请日:20130110

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-06-15

    授权

    授权

  • 2016-06-15

    授权

    授权

  • 2014-08-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/32 申请日:20130110

    实质审查的生效

  • 2014-08-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/32 申请日:20130110

    实质审查的生效

  • 2014-07-16

    公开

    公开

  • 2014-07-16

    公开

    公开

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