首页> 中国专利> 一种基于反射式单全息光栅的位移测量系统

一种基于反射式单全息光栅的位移测量系统

摘要

本实用新型公开了一种基于反射式单全息光栅的位移测量系统,属于精密位移测量系统领域,主要用于精密机械加工行业,包括激光器、准直透镜、光隔离器、反射镜、分光棱镜、偏振光分光棱镜、光电探测器、高密度全息光栅、1/4波片、信号调理系统、数据采集卡和计算机;所述激光器发出光束经过一系列相位及偏振态的改变,使光电探测器接收到光强信号的变化,通过信号调理系统后传输给数据采集卡,传输给计算机显示微小位移量。该实用新型采用高密度全息光栅,利用光栅栅距作为测量基准,测量精度高,减小了由于非正交及光栅定位不准带来的位移测量误差,减小环境对测量结果的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN209894118U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量大学;

    申请/专利号CN201920395952.6

  • 发明设计人 高仁祥;李劲松;

    申请日2019-03-27

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310018 浙江省杭州市江干区学源街258号

  • 入库时间 2022-08-22 12:04:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-03

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号