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公开/公告号CN209766369U
专利类型实用新型
公开/公告日2019-12-10
原文格式PDF
申请/专利权人 合肥富芯元半导体有限公司;
申请/专利号CN201920419465.9
发明设计人 沈春福;周体志;徐玉豹;薛战;吴海兵;郑文彬;
申请日2019-03-29
分类号
代理机构北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人胡剑辉
地址 230000 安徽省合肥市高新区香蒲路503号1#生产厂房
入库时间 2022-08-22 11:42:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-12-10
授权
机译: 半导体封装中晶片对晶片键合的方法和结构
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数
机译: 一种电子倍增器结构,包括一个倍增器,一个微通道晶片,其后是一个具有倍增极的放大级,其生产和使用在光电管中
机译:结构化晶片的低温全晶片粘接
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