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公开/公告号CN209656985U
专利类型实用新型
公开/公告日2019-11-19
原文格式PDF
申请/专利权人 浙江和睿半导体科技有限公司;
申请/专利号CN201920570149.1
发明设计人 郑振军;郑石磊;刘卫卫;廖驰驰;孔琪;刘负敏;
申请日2019-04-24
分类号
代理机构衢州维创维邦专利代理事务所(普通合伙);
代理人陈传班
地址 325600 浙江省温州市乐清市乐清经济开发区纬十六路288号3号楼(跃华控股集团有限公司内)
入库时间 2022-08-22 11:23:34
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-11-19
授权
机译: 将设备连接到台式金相显微镜或双筒望远镜,以测量反射光中的拐角并查看具有不同艺术品的物体
机译: 金相结构的测量方法和金相结构的测量装置
机译: 一种用于通过测量显微镜以及用于执行该方法的测量显微镜来测量尤其是电路板的导体蚀刻的底蚀的方法
机译:确定金相实验室中光学和扫描电子显微镜中长度测量的测量不确定度
机译:原子力显微镜的金相制备方法:原子力显微镜作为金相学的工具
机译:用高倍率正透镜对光盘进行生物显微镜测量。
机译:一种用于快速对焦的光学技术,用于高倍显微镜
机译:高功率LED组件可替代高分辨率,高倍率显微镜系统中的常规HBO灯
机译:高倍数数字显微镜方法对人工晶状体中液泡的多参数定量评估
机译:陨石Bocaiúva和JoãoPinheiro的金相和金相研究结合SEM / EDS技术陨石Bocaiúva和JoãoPinheiro的金相和金相研究与SEM / EDS显微镜相结合
机译:金相显微镜校准标准。