一种用于2.5寸7mmSSD的开发调试装置

摘要

本实用新型为了解决现有2.5寸7mm的SSD开发调试存在的问题，提出了一种基于2.5寸7mm的开发调试装置，在SSD主板上使用下沉式USB3.1 Type C连接器，充分利用该下沉式连接器与PCB板厚度以及外壳的尺寸关系，即SSD上壳厚度，SSD下壳厚度，PCB板厚度以及下沉式连接器总的尺寸厚度不超过7mm，通过USB延长连接线接至SSD开发调试装置上，开发人员根据需要将SSD开发调试装置上的调试接口连接至开发工具上，这样可以在不拆SSD机壳的情况下，就可以实现对SSD产品的软件调试、固件升级、维护等工作，从而提高了SSD产品的开发调试效率，缩短了研发周期。