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一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备

摘要

本实用新型提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备,包括一测试台装置,测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡;点光源安装在测试平台的上方;遮光围挡安装在测试平台的上方,遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域,点光源位于镂空区域;还包括一待测膜夹片装置,待测膜夹片装置覆盖在遮光围挡的上方;待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片,载膜片设置在压膜片的下方。通过测试台装置与待测膜夹片装置,使待检测光学膜与点光源之间保持确定的间距,从而在待测光学膜的上方呈现出特定的圆形光斑,通过测量圆形光斑的直径尺寸或者圆度,来判断待检测光学膜中是否合格。

著录项

  • 公开/公告号CN208607158U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江阴通利光电科技有限公司;

    申请/专利号CN201820874561.8

  • 发明设计人 周永南;冯煜;

    申请日2018-06-07

  • 分类号

  • 代理机构上海顺华专利代理有限责任公司;

  • 代理人蒋骏杰

  • 地址 214411 江苏省无锡市江阴市长泾镇长兴路8号

  • 入库时间 2022-08-22 08:27:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-15

    授权

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