一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路

摘要

本实用新型公开了一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路，属于电子技术领域。本实用新型提供的LM317芯片故障检测电路操作简单，连接方便，只需将待检测的LM317芯片插入连接底座便可检测；能够高效直观、方便简单地检测一个LM317芯片是否存在故障；使用这样的电路，可以在使用LM317芯片前，检测其是否已存在故障；可以在含有LM317的电路出现故障时，判断故障是否是由LM317芯片损坏而造成，方便排除电路故障。