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荷电离子束流强度测量系统

摘要

本公开提供了一种荷电离子束流强度测量系统,该测量系统包括离子束传输真空管道、电磁扫描设备、离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料;电磁扫描设备,设置在所述离子束传输真空管道前端的外部;离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料顺次设置在离子束传输真空管道内,其中辐照材料设置在离子束传输真空管道的后端。本公开突破了传统铝箔三明治测束技术中存在的测量精度差,易烧蚀损坏等问题,同时也克服了样品与法拉第筒一体式设计中操作不便利、导电样品限制等不足,采用一种半拦截式的测束技术,更加适合在强流、长时间、不同辐照材料实验中使用。

著录项

  • 公开/公告号CN208188352U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院近代物理研究所;

    申请/专利号CN201820714394.0

  • 发明设计人 姚存峰;

    申请日2018-05-14

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人李坤

  • 地址 730000 甘肃省兰州市城关区南昌路509号

  • 入库时间 2022-08-22 07:16:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    著录事项变更 IPC(主分类):G01T1/29 变更前: 变更后: 申请日:20180514

    著录事项变更

  • 2018-12-04

    授权

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