一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪

摘要

本实用新型涉及一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪，属于数字频率特性测量领域。该测试仪包括FPGA、D/A转换器、低通滤波器、被测网络、程控增益放大电路、A/D转换器、处理器模块和人机交互模块，其中：FPGA、D/A转换器、低通滤波器和被测网络顺序连接，FPGA、A/D转换器、程控增益放大电路和被测网络顺序连接，处理器模块和人机交互模块连接，处理器模块和FPGA双向连接。该测试仪成本低、易实现、可扩展性强，可用于学生实验。