芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法

摘要

本发明提出了一种芯片内同精度Sigma-deltaADC和Sigma-deltaDAC的数字电路测试方法，属于大规模集成电路技术领域。该方法连接芯片中的Sigma-deltaADC和Sigma-deltaDAC的数字电路，在Sigma-deltaDAC的输入端输入数字测试信号，在Sigma-deltaADC的输出端接收数字信号，通过比较输入的数字测试信号与输出的数字信号，即可判断Sigma-deltaADC和Sigma-deltaDAC的数字电路是否均正常工作。本发明芯片内同精度Sigma-deltaADC和Sigma-deltaDAC的数字电路测试方法可以在一次测试中就能测试出Sigma-delta数模转换和Sigma-delta模数转换两部分数字电路的正确性，测试方法简单，测试效率高。