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公开/公告号CN207675117U
专利类型实用新型
公开/公告日2018-07-31
原文格式PDF
申请/专利权人 淮阴师范学院;
申请/专利号CN201820056076.X
发明设计人 刘洋;左芬;陈洁;
申请日2018-01-15
分类号
代理机构
代理人
地址 223300 江苏省淮安市淮阴区长江西路111号淮阴师范学院
入库时间 2022-08-22 05:51:15
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-01-03
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B9/02 授权公告日:20180731 终止日期:20190115 申请日:20180115
专利权的终止
2018-07-31
授权
机译: 一种利用测量装置测量被测物体光学表面形状的方法,包括将被测物体布置在物体支架上,设置多种测量配置,以及光学表面的干涉测量面积
机译: 精密光学零件表面形式的干涉测量方法
机译: 光学干涉测量装置及光学干涉测量方法
机译:光学装置光学装置的超精密加工
机译:高精度光学谐振器中镜双折射的精密干涉测量
机译:偏振和相位敏感的低相干干涉测量装置,用于表征集成光学组件
机译:使用波长调谐Fizeau干涉仪进行光学平板的精密干涉测量
机译:高功率二极管激光泵浦固态激光器,用于精密干涉测量。
机译:高菲尼斯光学谐振器中镜双折射的精密干涉测量
机译:用于测量精密结构元件热变形的干涉测量装置
机译:用于大型光学制造的亚纳米干涉测量和精密车削。