首页> 中国专利> 能快速载入试样的X射线荧光光谱测量装置

能快速载入试样的X射线荧光光谱测量装置

摘要

本实用新型涉及一种X射线荧光光谱测量装置,尤其涉及一种气体环境可变且能快速载入多类型试样的X射线荧光光谱测量装置,包括一基座,该基座内部设有一Y形空腔,X射线激发源与X荧光光谱探测器的前端分别延伸至Y形空腔上端的两个开口中,并且在所述Y形空腔的中上部交汇;所述基座侧面开有一个与所述Y形空腔相垂直的滑槽,所述滑槽位于所述Y形空腔的中下部,该滑槽内放置有其匹配的试剂装载腔体,所述试剂装载腔体外壁与该滑槽内壁滑动配合;所述Y形空腔的下部设有用于放置密封盖的空腔;密封盖上开有一气孔,用于排出基座内部的气体。本实用新型能兼容测量固体压片以及盛放不同类型液体或固体粉末的样品杯,可将试样快速载入测量位置。

著录项

  • 公开/公告号CN206725475U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 章炜;

    申请/专利号CN201720410338.3

  • 申请日2017-04-19

  • 分类号

  • 代理机构合肥鼎途知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人叶丹

  • 地址 230031 安徽省合肥市东至路5号24-404

  • 入库时间 2022-08-22 03:20:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N23/223 授权公告日:20171208 终止日期:20190419 申请日:20170419

    专利权的终止

  • 2017-12-08

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号