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生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片

摘要

本实用新型公开了生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片,由下至上依次包括Si衬底、In金属纳米微球层和InN纳米柱层。所述In金属纳米微球层中的In金属纳米微球的直径为20‑70nm。所述InN纳米柱层中InN纳米柱直径为40‑80nm。本实用新型的纳米柱直径均一,同时解决了InN因与Si之间存在较大晶格失配而在其中产生大量位错的技术难题,大大减少了InN纳米柱外延层的缺陷密度,有利提高了载流子的辐射复合效率,可大幅度提高氮化物器件如半导体激光器、发光二极管的发光效率。

著录项

  • 公开/公告号CN206271710U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201621385234.3

  • 申请日2016-12-16

  • 分类号

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈文姬

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2022-08-22 02:38:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-20

    授权

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