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公开/公告号CN205785077U
专利类型实用新型
公开/公告日2016-12-07
原文格式PDF
申请/专利权人 西安计量技术研究院;
申请/专利号CN201620669547.5
发明设计人 王凯;张娟;任志刚;刘卓;刘洋;武宏璋;孙培强;肖永生;
申请日2016-06-29
分类号
代理机构西安弘理专利事务所;
代理人罗笛
地址 710068 陕西省西安市莲湖区劳动南路12号
入库时间 2022-08-22 01:56:02
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-12-07
授权
机译: 通过使用参考激光束和测量激光束形成的相干图案来测量目标物体位移的激光干涉仪,以及使用该干涉仪的位移测量系统
机译: 外差光栅干涉仪位移测量系统
机译: 三自由度外差光栅干涉仪位移测量系统
机译:用于绝对位移测量的双波长激光外差干涉仪
机译:基于新型稳定激光多普勒干涉仪的亚微米级速度和位移测量系统的设计与仿真
机译:外差激光干涉仪测量系统测量误差的极化分量分析
机译:基于衍射光栅的双彩外差干涉仪进行位移测量
机译:具有纳米分辨率的基于激光干涉测量的位移传感器的设计和验证。
机译:基于FPGA的智能传感器可使用外差式干涉仪进行在线位移测量
机译:有源激光外差干涉法进行精密位移测量
机译:具有亚埃精度的位移测量激光外差干涉仪