一种双脉冲涌动环的高频电性测试系统

摘要

一种双脉冲涌动环的高频电性测试系统，本实用新型涉及电特性测试技术领域，其旨在解决现有技术不能够根据待测元件所需带宽自由调节脉冲宽度，由单环、单时钟检测结构导致的多次重复编程，使用成本高且通用性差等技术问题。本发明主要包括主电性测试电路，其中包括用于构成时钟内环的现场编程门阵列器件、与现场编程门阵列器件连接的第一脉冲发生器和第二脉冲发生器，第二脉冲发生器的时钟源为第一脉冲发生器输出脉冲的恢复时钟；现场编程门阵列器件还设置有输入接口和输出接口；电压钳制电路，分别与输入接口和输出接口连接；所述的第一脉冲发生器，包括振荡器反馈环路，PMOS阵列和NMOS阵列。本实用新型用于测试电性待测装置的时钟时序特征。