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公开/公告号CN205352970U
专利类型实用新型
公开/公告日2016-06-29
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海应用物理研究所;
申请/专利号CN201520966274.6
发明设计人 李冰;黄胜;汪启胜;崔莹;何建华;
申请日2015-11-27
分类号
代理机构上海弼兴律师事务所;
代理人薛琦
地址 201800 上海市嘉定区宝嘉公路2019号
入库时间 2022-08-22 01:28:45
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-06-29
授权
机译: 精确测量辐射衰减的方法用光子辐射来测量冶金厂中的纸张厚度,包括通过连续计算指定的代数方程来计算平均衰减值
机译: 辐射连续装置中真实连续切变体衰减效率的测量方法和系统
机译: 基于E和PR的混合物作为辐射衰减成分,辐射衰减材料和针对这种成分的电离辐射防护装置的使用
机译:斯巴鲁新款同步辐射装置利用同步辐射的新进展
机译:使用SPHINX光谱仪测量辐射衰减宽度T [Delta(1520)-> Deltaγ]
机译:用于国内同步辐射辐射的辐射发电装置,具有极低的膨胀性
机译:使用偏振同步辐射和PCGRATE代码计算的平面掠食入射星座X光栅校准
机译:用储能装置的连续循环和功率性能模型研究锂离子聚合物电池的容量衰减
机译:垂直发射率对同步辐射紫外辐射装置可计算性的影响
机译:测量辐射衰减宽度\ Gamma [\ Lambda(1520) - > \ Lambda \ gamma]与spHINX光谱仪
机译:杰斐逊实验室的同步FEL-同步辐射装置