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使用自适应编程验证方案的闪速存储器件和相关操作方法

摘要

一种对闪速存储器件进行编程的方法,包括:对选定的存储单元编程;执行验证操作,以确定选定的存储单元是否达到了目标编程状态;以及基于与检测初始编程状态的编程期间的合格比特相关联的编程特性,来确定验证操作的起始点。

著录项

  • 公开/公告号CN102157204B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN201010622089.7

  • 申请日2010-12-30

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人戎志敏

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:40:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-11

    授权

    授权

  • 2013-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 16/34 申请日:20101230

    实质审查的生效

  • 2011-08-17

    公开

    公开

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