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常用集成运算放大器芯片好坏测试器

摘要

一种常用集成运放芯片好坏测试器,用于测试常用晶体管互补输出型和集电极输出型集成运放芯片。它包括电源指示电路、单相电源变压器、桥式整流、多谐振荡器、循环十进位译码输出器、四运放电压比较器、精密基准电压稳压器、四运放输出显示电路、过载保护电路。测试器的多谐振荡器向循环十进位译码输出器输出振荡方波信号,循环十进位译码输出器向四运放电压比较器循环输出占空比稳定的方波信号,四运放电压比较器的比较输出送入LED输出显示电路,LED显示电路显示测试结果。该测试器价格低廉,电路简单,检测步骤、方法简易,准确有效,在电气设备、家电维修中具有显著的适用价值,能为一般的、大多数维修者所接受。

著录项

  • 公开/公告号CN204832442U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2015-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 云南国土资源职业学院;

    申请/专利号CN201520223382.4

  • 发明设计人 汪全美;王文君;

    申请日2015-04-14

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 650011 云南省昆明市阳宗海风景名胜观山云南国土资源职业学院

  • 入库时间 2022-08-22 00:58:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R31/28 授权公告日:20151202 终止日期:20180414 申请日:20150414

    专利权的终止

  • 2015-12-02

    授权

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