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晶元片盒测量治具及装置

摘要

本实用新型公开了晶元片盒测量治具,其底板相对的两侧平行设置导向条,且两导向条的距离与晶元片盒的宽度相匹配,对接件连接于底板上并包括若干于两导向条之间的上方平行排列的插板,插板与晶元片盒的插槽一一对应匹配。本实用新型还公开了晶元片盒测量装置,晶元片盒置于测量治具底板上两导向条之间,推力计连接于晶元片盒上并于晶元片盒推动至插槽与插板对插的过程中显示推力数值,通过对插前后推力值大小的比值即可判断晶元片盒的形变程度,简单有效快捷,对实际生产有指导意义。

著录项

  • 公开/公告号CN204757969U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2015-11-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门市三安集成电路有限公司;

    申请/专利号CN201520423923.8

  • 发明设计人 尚荣耀;黄怡和;

    申请日2015-06-18

  • 分类号

  • 代理机构厦门市首创君合专利事务所有限公司;

  • 代理人连耀忠

  • 地址 361000 福建省厦门市吕岭路1733-1751号

  • 入库时间 2022-08-22 00:54:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-11-11

    授权

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