一种用于X射线衍射测定的密封样品架

摘要

本实用新型公开了一种用于X射线衍射测定的密封样品架，其特征在于，包括：加样口、样品槽、加样漏斗、密封塞；所述样品槽开设于所述密封样品架的上半部，所述加样口设置于所述样品槽的顶端或侧面，所述加样漏斗将环境敏感样品从所述加样口加入到所述样品槽中，当所述样品槽中的环境敏感样品填满后，用所述密封塞等封好所述加样口。