可自校准内部晶振的芯片、晶振校准测试系统及校准方法

摘要

本发明公开了一种可自校准内部晶振的芯片以及一种晶振校准测试系统，还公开了基于该系统晶振的校准方法，内部待校准晶振3输出的信号与外部参考精准信号在比较模块(4)中进行比较，比较结果输出到测试处理模块1中进行处理，测试处理模块(1)根据比较的结果产生晶振的校准值输出到校准寄存器(2)中保存，待校准晶振(3)根据校准寄存器(2)中的校准值校准输出时钟信号，实现芯片内部晶振的校准。