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一种立式超小角X射线散射装置

摘要

本实用新型提供一种立式超小角X射线散射装置,该装置包括X射线光源部分、样品操作区、整体支撑结构、真空光路、探测器部分和驱动机构等六个部分。X射线光源产生低发散、高亮度的平行X射线光,经两个四刀口无散射狭缝准直光路,光斑被约束至规定形状尺寸。X射线透射样品后的散射光被探测器接收,并生成为二维数据图。整个系统可实现最大结构检测尺度410nm,同时真空光路长度自由可调,能实现不同尺度范围的结构检测。该装置特有的立式布局使得其非常适合研究要求入射光沿竖直方向的实验体系;同时样品操作区开放自由,可放置各种大小型实验仪器,因此该装置在原位结构检测方面具有常规水平X射线散射仪器无法比拟的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN204116252U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2015-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学技术大学;

    申请/专利号CN201420488344.7

  • 发明设计人 李良彬;王震;陈晓伟;

    申请日2014-08-27

  • 分类号G01N23/201(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人成金玉;李新华

  • 地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号

  • 入库时间 2022-08-22 00:27:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-21

    授权

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