一种用于测试光路与成像光路同轴的光路系统

摘要

本实用新型公开了一种用于测试光路与成像光路同轴的光路系统，包括测试光路、成像光路、入射及反射部件，所述测试光路和所述成像光路安装在所述入射及反射部件两侧，成反射镜像对称；其中，测试光路中包括准直孔装置，成像光路中包括胶合组镜组;本实用新型通过准直孔装置屏蔽测试光路中的X射线以及通过胶合组镜组对可见光进行折射，使得以往成像观测过程中形成的黑斑得到消减直至消失，可以使得观测和调节更加方便。