要解决的问题:提供光路特性的分析方法,光路测试系统和光路测试监视系统,即使通过光脉冲也能够高精度地评估光路连接处的损耗从一端进行测试。解决方案:通过使用在光纤连接点20处的两个连接损耗值Ls(见图a),根据光脉冲产生的反向散射光的光接收强度,对它们进行分析,直到它们到达终端为止根据在端接滤波器处反射并进一步在端接滤波器处反射的光脉冲产生的反向散射光的光接收强度,对光纤连接点20处的滤波器和连接损耗值Lis(见图b)进行分析,计算在光纤连接点的连接损耗的真值。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2004354125A
专利类型
公开/公告日2004-12-16
原文格式PDF
申请/专利权人 NIPPON TELEGR & TELEPH CORP NTT;
申请/专利号JP20030150199
申请日2003-05-28
分类号G01M11/00;G02B6/00;H04B10/08;H04B17/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:31:26