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一种具有横向p-n结复合缓冲层结构的氮化镓基异质结场效应晶体管

摘要

本发明公开了一种具有横向p-n结复合缓冲层结构的氮化镓基异质结场效应晶体管,属于半导体器件领域。其结构从下到上主要包括有衬底,氮化铝(AlN)成核层,氮化镓(GaN)沟道层,氮化铝(AlN)插入层,势垒层以及势垒层上形成的源极,漏极和栅极,其中源极和漏极与势垒层形成欧姆接触,栅极与势垒层形成肖特基接触,在氮化镓(GaN)沟道层和氮化铝(AlN)成核层之间还设有横向p-n结复合缓冲层以抑制缓冲层内的载流子输运,降低器件缓冲层泄漏电流,提升器件击穿电压与输出功率。

著录项

  • 公开/公告号CN102832241B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201210341509.3

  • 申请日2012-09-14

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L29/812(20060101);H01L29/06(20060101);

  • 代理机构成都君合集专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人廖曾

  • 地址 610054 四川省成都市建设北路二段4号

  • 入库时间 2022-08-23 09:39:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-27

    授权

    授权

  • 2013-02-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/778 申请日:20120914

    实质审查的生效

  • 2012-12-19

    公开

    公开

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