首页> 中国专利> 一种黑硅光谱特性探测平台

一种黑硅光谱特性探测平台

摘要

本实用新型涉及一种黑硅光谱特性探测平台,氕灯和钨灯、单色仪、透镜、测透射光的样品室、测反射光的样品室、积分球依次固定在光学平台上。积分球上设置通光口和探测口,测透射光的样品室和测反射光的样品室分别与积分球通光口相连,光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器分别与积分球的探测口连接;积分球将光信号完整收集到样品室中;然后根据光谱范围,分别进入光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器,在紫外区、可见区和近红外区超宽波段范围内分段检测,最后实现该黑硅材料在宽光谱范围内透射和反射特性的定性和定量分析。本实用新型结构简单,使用方便,测试结果精准。

著录项

  • 公开/公告号CN202083469U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2011-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201120124849.1

  • 申请日2011-04-26

  • 分类号

  • 代理机构上海东创专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宁芝华

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-21 23:25:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J3/28 授权公告日:20111221 终止日期:20120426 申请日:20110426

    专利权的终止

  • 2011-12-21

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号