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水平样品几何中子反射谱仪的中子光路的调整机构

摘要

本实用新型涉及水平样品几何中子反射谱仪的中子光路的调整机构。所述调整机构包括入射升降机构和反射升降机构;沿着入射中子的光路方向,第一入射狭缝座、入射中子飞行管和第二入射狭缝座依次安装在入射升降机构上;沿着反射中子的光路方向,第一反射狭缝座、反射中子飞行管和第二反射狭缝座依次安装在反射升降机构上。本实用新型的调整机构能够高精度地调整所述狭缝和中子飞行管的位置,并能够实现高精度改变中子束的入射角和反射角,获取高分辨率的散射矢量,且中子束的入射角范围达-5°~9°,中子束的反射角范围达-5°~9°,使得测量的散射矢量范围加大。同时,在入反射角范围内,样品能够始终对准中子束。

著录项

  • 公开/公告号CN202066805U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2011-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院化学研究所;

    申请/专利号CN201120105951.7

  • 发明设计人 张红霞;袁光萃;程贺;韩志超;

    申请日2011-04-12

  • 分类号

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人李柏

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村北一街2号

  • 入库时间 2022-08-21 23:24:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-13

    避免重复授权放弃专利权 IPC(主分类):G01N23/202 授权公告日:20111207 放弃生效日:20140813 申请日:20110412

    避免重复授权放弃专利权

  • 2011-12-07

    授权

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