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155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪

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摘要

本实用新型提供一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪，其包括：用于产生测试码型信号的码流发生器；连接于所述码流发生器且用于误码检测的误码检测模块。本实用新型一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪提高了生产效率，减小了工位面积，降低了生产成本。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2015-02-04

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04B10/08 授权公告日:20110713 终止日期:20131220 申请日:20101220

专利权的终止
2011-07-13

授权

授权

1. 155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪 [P] . 中国专利： CN201898511U . 2011.07.13
2. 一种基于PAM4的一体化光模块误码测试仪 [P] . 中国专利： CN110784259B . 2020.11.10
3. CIRCUITRY ON AN INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING OR FACILITATING OSCILLOSCOPE, JITTER, AND/OR BIT-ERROR-RATE TESTER OPERATIONS [P] . 欧洲知识产权局专利： EP2603805A4 . 2016-10-19

机译：用于执行或促进示波器，抖动和/或误码率测试仪操作的集成电路的电路
4. Circuitry on an integrated circuit for performing or facilitating oscilloscope, jitter, and/or bit-error-rate tester operations [P] . 美国专利： US8504882B2 . 2013-08-06

机译：集成电路上的电路，用于执行或促进示波器，抖动和/或误码率测试仪的操作
5. CIRCUITRY ON AN INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING OR FACILITATING OSCILLOSCOPE, JITTER, AND/OR BIT-ERROR-RATE TESTER OPERATIONS [P] . 欧洲知识产权局专利： EP2603805A2 . 2013-06-19

机译：用于执行或促进示波器，抖动和/或误码率测试仪操作的集成电路的电路